掃描電鏡的基本原理是什么？當(dāng)具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時，電子與元素核和外層電子發(fā)生一次或多次彈性和非彈性碰撞。一些電子被樣品表面反射，而其余電子則穿透樣品，四川Psylotech設(shè)備總代理,逐漸失去動能，在Z后停止運動，被樣品吸收。在這個過程中，99%以上的入射電子能量轉(zhuǎn)化為樣品熱能，剩余約1%的入射電子能量激發(fā)樣品的各種信號。這些信號主要包括二次電子，四川Psylotech設(shè)備總代理，四川Psylotech設(shè)備總代理、背散射電子、吸收電子、透射電子、俄歇電子、電子電動勢、陰極發(fā)光、X射線等。掃描電子顯微鏡設(shè)備使用這些信號來獲取信息來分析樣品。原位加載設(shè)備系統(tǒng)，確保試樣中心位置不變。四川Psylotech設(shè)備總代理

掃描電鏡原位加載系統(tǒng)：掃描電鏡原位技術(shù)已經(jīng)大范圍應(yīng)用于材料科學(xué)研究的各個領(lǐng)域，它可以將材料宏觀性能與微觀結(jié)構(gòu)聯(lián)系起來，這對研發(fā)高性能新型材料非常有幫助。但電鏡原位實驗從來都不是一個簡單的工作，有的時候甚至還需要一些運氣。掃描電鏡原位解決方案將掃描電鏡、原位樣品臺、ebsd和eds控制軟件深度整合，在單臺pc的一個軟件中就可以控制所有硬件，實現(xiàn)成像、分析以及原位樣品臺參數(shù)設(shè)定的高度集成。開創(chuàng)性自動化實驗流程：節(jié)省時間+解放雙手。四川Psylotech設(shè)備總代理掃描電鏡原位技術(shù)已經(jīng)大范圍應(yīng)用于材料科學(xué)研究的各個領(lǐng)域。

工業(yè)CT原位加載裝置壓力信號采集系統(tǒng)：為了避免旋轉(zhuǎn)掃描過程中加載裝置壓力傳感器外接連線帶來的纏繞和遮擋問題,基于ARM技術(shù)和WiFi技術(shù)給出了一種無線數(shù)據(jù)采集方案,實現(xiàn)了工業(yè)CT原位加載掃描實驗中加載裝置壓力信號的實時采集.整個采集系統(tǒng)由下位機、無線路由器、上位機三部分組成.下位機安裝在加載裝置上,采用ARM系統(tǒng)搭建,電池供電.壓力變送器信號經(jīng)調(diào)理后通過ARM主控芯片模擬輸入端采集.利用WiFi模塊與路由器通過無線連接,路由器再與上位機通過網(wǎng)線連接,從而實現(xiàn)下位機與上位機的P2P網(wǎng)絡(luò)連接.數(shù)據(jù)傳輸采用UDP協(xié)議,自定義數(shù)據(jù)包格式中包含了采樣時間和各通道A/D數(shù)據(jù).上位機放置于CT監(jiān)控室,接收網(wǎng)絡(luò)UDP數(shù)據(jù)包,解析數(shù)據(jù)后進行顯示和存儲.實驗測試結(jié)果表明,該系統(tǒng)工作穩(wěn)定可靠,操作方便直觀,完全滿足靜態(tài)加載的數(shù)據(jù)采集需求。

原位加載掃描電鏡的擴展技術(shù)：基于性能特點，我們將體視學(xué)顯微鏡觀測技術(shù)與原位拉伸裝置結(jié)合，研究了固體推進劑的絕熱層與推進劑藥柱在加載作用下的細觀損傷破壞過程。由于體視學(xué)顯微鏡觀測空間不受限制，可以充分擴展加載臺，實現(xiàn)對延伸率較大樣品的觀測;并可通過對加載臺的溫度控制，實現(xiàn)對材料在高、低溫環(huán)境下?lián)p傷力學(xué)性能規(guī)律的研究;此外，體視學(xué)顯微鏡原位加載裝置還具有樣品不需噴金、成本低等優(yōu)點。由于種種問題的存在，限制了SEM原位加載實驗系統(tǒng)的應(yīng)用范圍，對材料力學(xué)性能研究的貢獻也有限。CT原位加載設(shè)備特點有實時繪制多種曲線，助力試驗研究。

掃描電鏡原位加載技術(shù)及其進展：利用原位拉伸掃描電鏡研究了新型環(huán)氧樹脂復(fù)合材料在拉伸與剪切等作用下的細觀損傷過程，通過對裂紋尺寸的測量和計算，得到斷裂過程中的破壞強度，進一步通過有限元計算分析了在材料基體中的應(yīng)力分布因子，對不同破壞模式下材料界面的破壞機理進行了深人研究。對浸透裂解工藝制備的十字編制SiC纖維增強的陶瓷基復(fù)合材料,用原位拉伸掃描電鏡對基體的裂紋，基體與纖維的界面開裂以及纖維束的斷裂破壞過程進行了觀測。通過原位拉伸觀察對全層和雙態(tài)TiAl基合金損傷機理進行了研究，分別研究了拉伸過程中采用位移控制和載荷控制兩種情況下材料的損傷破壞機理。發(fā)現(xiàn)有明顯差異。研究結(jié)果表明，裂紋面密度、彈性模量、斷裂應(yīng)力、斷裂應(yīng)變、屈服應(yīng)力等參數(shù)可以作為表征材料斷裂性能變化的參數(shù)，并可通過原位拉伸損傷觀檢測過程獲得。SEM原位加載設(shè)備的原理能顯示各種圖像的信息是由于聚焦的電子束與樣品的相互作用而產(chǎn)生的各種信號。四川Psylotech設(shè)備總代理

環(huán)境掃描電鏡對觀測含水樣品在原位加載下的細觀損傷過程有其獨特的優(yōu)勢。四川Psylotech設(shè)備總代理

掃描電鏡原位加載設(shè)備：基本結(jié)構(gòu)：掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區(qū)的特征（如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、或晶體結(jié)構(gòu)等）的差異，在電子束作用下通過試樣不同區(qū)域產(chǎn)生不同的亮度差異，從而獲得具有一定襯度的圖像。成像信號是二次電子、背散射電子或吸收電子，其中二次電子是很主要的成像信號。其成像原理圖，高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)出樣品表面的各種物理信號，再利用不同的信號探測器接受物理信號轉(zhuǎn)換成圖像信息。掃描電鏡除能檢測二次電子圖像以外，還能檢測背散射電子、透射電子、特征x射線、陰極發(fā)光等信號圖像。其成像原理與二次電子像相同。在進行掃描電鏡觀察前，要對樣品作相應(yīng)的處理。四川Psylotech設(shè)備總代理

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