【薄膜干涉原理之光的波動性】19世紀(jì)60年代，美國物理學(xué)家麥克斯韋發(fā)展了電磁理論，指出光是一種電磁波，使波動說發(fā)展到了相當(dāng)完美的地步。 由光的波粒二象性可知，光同無線電波、X射線、一樣都是電磁波，只是它們的頻率不同。電磁波的波長λ、頻率u和傳播速率V三者之間的關(guān)系為：V=λu 由于各種頻率的電磁波在真空中德傳播速度相等，所以頻率不同的電磁波，它們的波長也就不同。頻率高的波長短，頻率低的波長長。為了便于比較，可以按照無線電波、紅外線、可見光、紫外線、X射線和伽瑪射線等的波長(或頻率)的大小，把它們依次排成一個譜，這個譜叫電磁波譜。 在電磁波譜中，波長*長的是無線電波，無線電波又因波長的不同而分為長波、中波、短波、超短波和微波等。其次是紅外線、可見光和紫外線，這三部分合稱光輻射。在所有的電磁波中，只有可見光可以被人眼所看到。可見光的波長約在0.76微米到0.40微米之間，只占電磁波譜中很小的一部分。再次是X射線。波長*短的電磁波是y射線。 光既然是一種電磁波，所以在傳播過程中，應(yīng)該變現(xiàn)出所具有的特征---干涉、衍射、偏振等現(xiàn)象。 光學(xué)鍍膜設(shè)備產(chǎn)業(yè)集群。福建光學(xué)鍍膜設(shè)備維修
【多層反射膜】在玻璃基板上交替重復(fù)地蒸鍍折射率較高的電介質(zhì)膜和折射率較低的電介質(zhì)膜時，可以得到反射率非常高的反射膜。高折射率和低折射率的分界面會產(chǎn)生很少的反射。由于每層的電介質(zhì)膜的厚度都調(diào)節(jié)為λ/4的光程(折射率n×膜厚d)，在各層上反射的光線的相位相同，反射將相互合成加強(qiáng)。相反，經(jīng)過多重反射向透過方向前進(jìn)的光線則相互抵消變?yōu)榱?。如果電介質(zhì)膜的層數(shù)足夠多，入射光線會逐漸減弱，變得幾乎不能透過。衰減的光線將全部轉(zhuǎn)為反射光。由于電解質(zhì)膜沒有吸收，入射的光線將沒有損失，成為100%的反射光。貴州光學(xué)鍍膜設(shè)備技術(shù)員招聘光學(xué)鍍膜設(shè)備真空四個階段。
【磁控濺射光學(xué)鍍膜設(shè)備及鍍膜方法】設(shè)備包含真空鍍膜室、磁控濺射靶組件、立式旋轉(zhuǎn)鼓，真空鍍膜室為立式圓筒形結(jié)構(gòu)，立式旋轉(zhuǎn)鼓位于真空鍍膜室內(nèi)，繞垂直軸線旋轉(zhuǎn)，立式旋轉(zhuǎn)鼓中心設(shè)置有旋轉(zhuǎn)密封箱，旋轉(zhuǎn)密封箱內(nèi)設(shè)置有膜厚測量儀表，旋轉(zhuǎn)密封箱的上部連接有旋轉(zhuǎn)軸，旋轉(zhuǎn)密封箱內(nèi)的氣氛與真空鍍膜室隔離。多組磁控濺射靶組件設(shè)置在立式旋轉(zhuǎn)鼓wai圍的真空鍍膜室的側(cè)壁上。鍍膜方法包括將需要鍍膜的工件裝卡到鍍膜設(shè)備的立式旋轉(zhuǎn)鼓的側(cè)面，對鍍膜設(shè)備抽真空；轉(zhuǎn)動立式旋轉(zhuǎn)鼓達(dá)到設(shè)定的轉(zhuǎn)速；啟動射頻離子源；交替啟動第一種材料的磁控靶靶和第二種材料的磁控靶，按工藝要求鍍制膜層。
【單層反射膜】線射入玻璃基板時，會產(chǎn)生4%左右的反射而造成透過率的損失。但是，通過在玻璃基板上蒸鍍比玻璃的折射率更低的電介質(zhì)膜，可以改變玻璃基板的反射率。 調(diào)節(jié)電介質(zhì)膜的厚度使其光程(折射率n×膜厚d)為λ/4時，可以相互抵消玻璃基板和電介質(zhì)膜，電介質(zhì)膜和空氣的分界面的反射，將反射率降到*低。 但是，由于折射率受到薄膜材料的限制，所以反射率不能完全為零。而且，由于受玻璃基板折射率的限制，所以并不是所有玻璃基板都能得到防反射效果。 光學(xué)鍍膜設(shè)備主要用途？
【光譜特性不良產(chǎn)生的原因】膜系設(shè)計時的膜厚、折射率允差太小，試制時的分光曲線在技術(shù)要求的邊緣，制造中稍有偏差就導(dǎo)致分光不良。設(shè)計的膜料折射率與實際的折射率有差異,或發(fā)生了變異。實被的中心波長(膜厚)與希望達(dá)到的中心波長(膜厚)有差異,或發(fā)生了変異。( tooling值(也有F值)有偏差)。制造中出了差錯;如膜料用錯、程序用錯、預(yù)熔時沒關(guān)擋板等。工藝條件改變:真空度、充氧星、加熱溫度、蒸發(fā)速率、基片旋轉(zhuǎn)速度、離子輔助條件等。材料變更,如不同廠家生產(chǎn)的同種光學(xué)材料(基片材料和膜料)在光學(xué)性能化學(xué)性能有所不同(有時同廠家不同生產(chǎn)批次也有不同),生產(chǎn)過程中(特別是大批量生產(chǎn))材料突然變更(末作論證),就可能造成分光不良。 用于測試分光的比較片表面特性變異,造成分光測試不良(也許鏡片的分光是OK的,可以比較二者的反射膜se)。這也許是容易忽視的一個問題,又是一個常見的可題,特別是高折射率的測試比較片表面形成一層腐蝕層,相當(dāng)于有了一層減反膜(很薄),膜層不是堆積在基片上,而是堆積在蝕層上,于是比較片上的分光就會不準(zhǔn)確、不穩(wěn)定。 光學(xué)鍍膜設(shè)備的工作原理。遼寧外貿(mào)光學(xué)鍍膜設(shè)備
關(guān)于光學(xué)鍍膜設(shè)備，你知道多少？福建光學(xué)鍍膜設(shè)備維修
【什么是薄膜干涉】薄膜可以是透明固體、液體或由兩塊玻璃所夾的氣體薄層。入射光經(jīng)薄膜上表面反射后得第yi束光，折射光經(jīng)薄膜下表面反射，又經(jīng)上表面折射后得第二束光，這兩束光在薄膜的同側(cè)，由同一入射振動分出，是相干光，屬分振幅干涉。若光源為擴(kuò)展光源(面光源)，則只能在兩相干光束的特定重疊區(qū)才能觀察到干涉，故屬定域干涉。對兩表面互相平行的平面薄膜，干涉條紋定域在無窮遠(yuǎn)，通常借助于會聚透鏡在其像方焦面內(nèi)觀察;對楔形薄膜，干涉條紋定域在薄膜附近。 實驗和理論都證明，只有兩列光波具有一定關(guān)系時，才能產(chǎn)生干涉條紋，這些關(guān)系稱為相干條件。薄膜的想干條件包括三點： 兩束光波的頻率相同; 束光波的震動方向相同; 兩束光波的相位差保持恒定。薄膜干涉兩相干光的光程差公式為： Δ=ntcos(α) ± λ/2 式中n為薄膜的折射率;t為入射點的薄膜厚度;α為薄膜內(nèi)的折射角;λ/2是由于兩束相干光在性質(zhì)不同的兩個界面(一個是光疏介質(zhì)到光密介質(zhì)，另一個是光密介質(zhì)到光疏介質(zhì))上反射而引起的附加光程差。薄膜干涉原理廣fan應(yīng)用于光學(xué)表面的檢驗、微小的角度或線度的精密測量、減反射膜和干涉濾光片的制備等。 福建光學(xué)鍍膜設(shè)備維修
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