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PCI-E測(cè)試信號(hào)完整性分析項(xiàng)目

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-07-21

邊沿時(shí)間會(huì)影響信號(hào)達(dá)到翻轉(zhuǎn)門(mén)限電平的時(shí)間,并決定信號(hào)的帶寬。

信號(hào)之間的偏移(Skew),指一組信號(hào)之間的時(shí)間偏差,主要是由于在信號(hào)之間傳輸路 徑的延時(shí)(傳輸延遲)不同及一組信號(hào)的負(fù)載不同,以及信號(hào)的干擾(串?dāng)_)或者同步開(kāi)關(guān) 噪聲所造成信號(hào)上升下降時(shí)間(Rising and Falling Time)的變化等引起的在分析源同步信號(hào)時(shí)序時(shí)需要考慮信號(hào)之間的偏移,比如一組DDR數(shù)據(jù)走線和數(shù)據(jù)釆樣時(shí)鐘 之間的傳輸時(shí)延的偏差。

有效高低電平時(shí)間(High and Low Times),指信號(hào)保證為高或低電平有效的時(shí)間,如圖 1-15所示。在分析信號(hào)時(shí)序時(shí)必須保證在接收端的數(shù)據(jù)/地址信號(hào)的有效高低電平時(shí)間能夠滿 足接收器件時(shí)鐘信號(hào)判決所需要的建立保持時(shí)間的時(shí)序要求。 什么是高速電路 高速電路信號(hào)完整性分析。PCI-E測(cè)試信號(hào)完整性分析項(xiàng)目

PCI-E測(cè)試信號(hào)完整性分析項(xiàng)目,信號(hào)完整性分析

3、串?dāng)_和阻抗控制來(lái)自鄰近信號(hào)線的耦合將導(dǎo)致串?dāng)_并改變信號(hào)線的阻抗。相鄰平行信號(hào)線的耦合分析可能決定信號(hào)線之間或者各類(lèi)信號(hào)線之間的“安全”或預(yù)期間距(或者平行布線長(zhǎng)度)。比如,欲將時(shí)鐘到數(shù)據(jù)信號(hào)節(jié)點(diǎn)的串?dāng)_限制在100mV以?xún)?nèi),卻要信號(hào)走線保持平行,你就可以通過(guò)計(jì)算或仿真,找到在任何給定布線層上信號(hào)之間的小允許間距。同時(shí),如果設(shè)計(jì)中包含阻抗重要的節(jié)點(diǎn)(或者是時(shí)鐘或者高速內(nèi)存架構(gòu)),你就必須將布線放置在一層(或若干層)上以得到想要的阻抗。

4、重要的高速節(jié)點(diǎn)延遲和時(shí)滯是時(shí)鐘布線必須考慮的關(guān)鍵因素。因?yàn)闀r(shí)序要求嚴(yán)格,這種節(jié)點(diǎn)通常必須采用端接器件才能達(dá)到比較好SI質(zhì)量。要預(yù)先確定這些節(jié)點(diǎn),同時(shí)將調(diào)節(jié)元器件放置和布線所需要的時(shí)間加以計(jì)劃,以便調(diào)整信號(hào)完整性設(shè)計(jì)的指針。 湖南信號(hào)完整性分析安裝基于多信號(hào)測(cè)試性設(shè)計(jì)分析;

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要想得到零邊沿時(shí)間的理想方波,理論上是需要無(wú)窮大頻率的頻率分量。如果比較高只考 慮到某個(gè)頻率點(diǎn)處的頻率分量,則來(lái)出的時(shí)域波形邊沿時(shí)間會(huì)蛻化,會(huì)使得邊沿時(shí)間增大。

如,一個(gè)頻率為500MHz的理想方波,其5次諧波分量是2500M,如果把5次諧波以 內(nèi)所有分量成時(shí)域信號(hào),貝U其邊沿時(shí)間大概是0.35/2500M=0.14ns,即140ps。

我們可以把數(shù)字信號(hào)假設(shè)為一個(gè)時(shí)間軸上無(wú)窮的梯形波的周期信號(hào),它的傅里葉變換。

對(duì)應(yīng)于每個(gè)頻率點(diǎn)的正弦波的幅度,我們可以勾勒出頻譜包絡(luò)線.

信號(hào)完整性是許多設(shè)計(jì)人員在高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)中涉及的主要主題之一。信號(hào)完整性涉及數(shù)字信號(hào)波形的質(zhì)量下降和時(shí)序誤差,因?yàn)樾盘?hào)從發(fā)射器傳輸?shù)浇邮掌鲿?huì)通過(guò)封裝結(jié)構(gòu)、PCB走線、通孔、柔性電纜和連接器等互連路徑。當(dāng)今的高速總線設(shè)計(jì)如LpDDR4x、USB3.2Gen1/2(5Gbps/10Gbps)、USB3.2x2(2x10Gbps)、PCIe和即將到來(lái)的USB4.0(2x20Gbps)在高頻數(shù)據(jù)從發(fā)送器流向接收器時(shí)會(huì)發(fā)生信號(hào)衰減。本文將概述高速數(shù)據(jù)速率系統(tǒng)的信號(hào)完整性基礎(chǔ)知識(shí)和集膚效應(yīng)、阻抗匹配、特性阻抗、反射等關(guān)鍵問(wèn)題。信號(hào)完整性(SI)、電源完整性(PI)和電磁完整性(EMI)三類(lèi)性能分析技術(shù)。

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什么是信號(hào)完整性

信號(hào)完整性(Signal Integrity)可以泛指信號(hào)電壓、電流在互連結(jié)構(gòu)傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì) 量問(wèn)題,包括噪聲、干擾及由其造成的時(shí)序影響等。

什么時(shí)候需要考慮信號(hào)完整性問(wèn)題呢?

一般來(lái)說(shuō),傳統(tǒng)的電路學(xué)理論適用于信號(hào)互連的電路尺寸遠(yuǎn)小于傳輸信號(hào)中設(shè)計(jì)者所關(guān) 心的比較高頻率所對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)的電路結(jié)構(gòu)分析。此時(shí),信號(hào)的互連等效于一階電路元件,被稱(chēng)為 集總元件(Lumped Elements):反之,當(dāng)信號(hào)互連的電路尺寸接近傳輸信號(hào)中設(shè)計(jì)者所關(guān)心 的比較高頻率所對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)時(shí),由于互連路徑上不同位置的電壓或電流的大小與相位均可能不 同,信號(hào)的互連等效于多階電路元件,因而被稱(chēng)為分布式元件(Distributed Elements)。在數(shù) 字世界中,邊沿速率幾乎完全決定了信號(hào)中的比較大的頻率成分,通常從工程經(jīng)驗(yàn)認(rèn)為當(dāng)信號(hào) 邊沿時(shí)間小于4?6倍的互連傳輸時(shí)延時(shí),信號(hào)互連路徑會(huì)被當(dāng)作分布參數(shù)模型處理,并需要 考慮信號(hào)完整性的行為。

實(shí)世界里的數(shù)字信號(hào)并不只是0或1的表現(xiàn),一定會(huì)存在從0到1或從1到0的跳變 過(guò)程。 數(shù)字信號(hào)完整性測(cè)試進(jìn)行抖動(dòng)分析;湖南信號(hào)完整性分析安裝

信號(hào)完整性分析的傳輸線理論;PCI-E測(cè)試信號(hào)完整性分析項(xiàng)目

信號(hào)完整性是許多設(shè)計(jì)人員在高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)中涉及的主要主題之一。信號(hào)完整性涉及數(shù)字信號(hào)波形的質(zhì)量下降和時(shí)序誤差,因?yàn)樾盘?hào)從發(fā)射器傳輸?shù)浇邮掌鲿?huì)通過(guò)封裝結(jié)構(gòu)、PCB 走線、通孔、柔性電纜和連接器等互連路徑。

當(dāng)今的高速總線設(shè)計(jì)如 LpDDR4x、USB 3.2 Gen1/2 (5Gbps/10Gbps)、USB3.2x2 (2x10Gbps)、PCIe 和即將到來(lái)的 USB4.0 (2x20Gbps) 在高頻數(shù)據(jù)從發(fā)送器流向接收器時(shí)會(huì)發(fā)生信號(hào)衰減。本文將概述高速數(shù)據(jù)速率系統(tǒng)的信號(hào)完整性基礎(chǔ)知識(shí)和集膚效應(yīng)、阻抗匹配、特性阻抗、反射等關(guān)鍵問(wèn)題。 PCI-E測(cè)試信號(hào)完整性分析項(xiàng)目

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