多晶體衍射儀計數(shù)測量方法分為連續(xù)掃描和步進（階梯）掃描兩種。1.連續(xù)掃描法：連續(xù)掃描方式掃描速度快、工作效率高，一般用于對樣品的全掃描測量（如物相定性分析）。步進掃描法：步進掃描測量精度高并受步進寬度與步進時間的影響，適用于做各種定量分析工作。測量參數(shù)包括狹縫光欄寬度、掃描速度、時間常數(shù)等。單晶體的研究方法分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中院子或原子團均是周期排列的。將X射線射到一粒單晶體上會發(fā)生衍射，對衍射先進行分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律——即解出晶體結(jié)構(gòu)。衍射儀的市場價格。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！合肥衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些

x射線衍射圖譜： 橫坐標：角度（度），是2θ 角，是衍射譜儀掃描的角度。 縱坐標：是檢測到的計數(shù)，單位：CPS-每秒計數(shù)counts per sec. 另外，測試單上還會給出一系列數(shù)據(jù)，它們是： 一列數(shù)據(jù)，是2θ 角，要除以2才是用到公式中的θ 。 第二列數(shù)據(jù)，的d,單位是?， 第三列數(shù)據(jù)，BG，可能是背景縮寫； 第四列數(shù)據(jù)，峰高，計數(shù)值； 第五列數(shù)據(jù)，相對峰高（%），是把強峰作為歸一標準的相對強度值； 第六列數(shù)據(jù)，峰面積； 第七列數(shù)據(jù)，相對峰面積（%）； 第八列數(shù)據(jù)，F(xiàn)WHM-Full width at half maximum （脈沖）峰半高寬；一般用于計算的峰強度使用高度就可以了，這是把峰都看成是常規(guī)峰。但這一項 FWHM 可以給出特異峰信息，在解析時會帶來特殊意義。 第九列數(shù)據(jù)，XS(?)，XS是晶粒度(?）。奧林巴斯BTX小型臺式XRD代理公司組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀普遍應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域。

衍射儀： x射線發(fā)生器 探測器 1衍射儀進展 衍射儀的進展主要在三個方面： 1、X 射線發(fā)生器，2、探測器，3、衍射幾何與光路。 x射線發(fā)生器 X射線發(fā)生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設(shè)備之一，其優(yōu)劣會嚴重影響X射線衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量。 探測器 探測器是用來記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設(shè)備中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射線會透過而不被吸收；它的計數(shù)線性范圍不大，強衍射不易測準；而且，還會起“霧”；又由于要有暗室用化學(xué)法進行顯影、定影、沖洗、曬干等一套繁瑣的過程，因此被性能更好的光子計數(shù)器所取代。計數(shù)器探測器不需化學(xué)處理，可以通過電子電路直接記錄衍射的光子數(shù)，方便了許多。初的計數(shù)器是蓋格計數(shù)器，但由于它的時間分辨率不高，計數(shù)的線性范圍不大，故不是一個良好的探測器。以后，正比計數(shù)器及閃爍計數(shù)器取代了蓋格計數(shù)器，成為普遍使用的探測器。隨著人類對自然的認識越來越廣，越來越深，對實驗的要求也越來越高，越多樣化，簡單的正比或閃爍計數(shù)器亦不 能滿足不同的實驗要求，于是又陸續(xù)發(fā)展出許多不同的探測器。

用x射線照射固體時，由于光電效應(yīng)，原子的某一能級的電子被擊出物體之外，此電子稱為光電子。 如果x射線光子的能量為hν，電子在該能級上的結(jié)合能為eb，射出固體后的動能為ec，則它們之間的關(guān)系為： hν=eb+ec+ws 式中ws為功函數(shù)，它表示固體中的束縛電子除克服各別原子核對它的吸引外，還必須克服整個晶體對它的吸引才能逸出樣品表面，即電子逸出表面所做的功。上式可另表示為： eb＝hν-ec-ws 可見，當(dāng)入射x射線能量一定后，若測出功函數(shù)和電子的動能，即可求出電子的結(jié)合能。由于只有表面處的光電子才能從固體中逸出，因而測得的電子結(jié)合能必然反應(yīng)了表面化學(xué)成份的情況。這正是光電子能譜儀的基本測試原理。選擇衍射儀有哪些方法？歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會產(chǎn)生二次熒光X射線（標識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度（峰強度）可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關(guān)系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。衍射現(xiàn)象是波的特有現(xiàn)象，一切波都會發(fā)生衍射現(xiàn)象?；窗惭苌鋬x生產(chǎn)廠家有哪些

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晶體X射線衍射： X射線在晶體中發(fā)生的衍射現(xiàn)象。晶體具有點陣結(jié)構(gòu)，點陣結(jié)構(gòu)的周期（即晶胞邊長，b，c）與X射線的波長屬于同一數(shù)量級，X射線衍射現(xiàn)象是一種基于波疊加原理的干涉現(xiàn)象，干涉的結(jié)果隨不同而有所不同（Δ為波程差；λ為波長）。為整數(shù)的方向，波的振幅得到大程度的加強，稱為衍射，對應(yīng)的方 向為衍射方向 ，而為半整數(shù)的方向，波的振幅得到大程度的抵消。因此，X射線通過晶體之后，在某些方向（衍射方向）X射線的強度增強，而另一些方向X射線強度卻減弱甚至消失 ，如果在晶體的背后放置一張感光底片，將會得到X射線的衍射圖形。合肥衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些