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X射線衍射擴展資料： 1、晶態(tài)物質(zhì)對X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象，即入射光束出射時光束沒有被發(fā)散但方向被改變了而其波長保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)特有的現(xiàn)象。絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準晶態(tài)物質(zhì)，都能產(chǎn)生X射線衍射。 2、晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖。 3、因此，通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過對樣品衍射強度數(shù)據(jù)的分析計算，可以完成樣品物相組成的定量分析。衍射...

X射線衍射儀技術(shù)（XRD） X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction，XRD)。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法,已逐步在各學科研究和生產(chǎn)中普...

XRD衍射儀的適用性很廣，通常用于測量粉末、單晶或多晶體等塊體材料，并擁有檢測快速、操作簡單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點，是一個標標準準的“良心產(chǎn)品”。在X射線衍射儀的世界里，X射線發(fā)生系統(tǒng)（產(chǎn)生X射線）是“太陽”，測角及探測系統(tǒng)（測量2θ和獲得衍射信息）是其“眼睛”，記錄和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)是其“大腦”，三者協(xié)同工作，輸出衍射圖譜。在三者中測角儀是中心部件，其制作較為復(fù)雜，直接影響實驗數(shù)據(jù)的精度。X射線是一種頻率很高的電磁波，其波長為10-0.001nm遠比可見光短得多，因為其穿透力很強，并且其在磁場中的傳播方向不受影響。衍射儀有什么特點？上海澤權(quán)告訴您。安慶衍射儀工廠X射線衍射的方法有很多。 按使用的樣...

晶體的X射線衍射圖像實質(zhì)上是晶體微觀結(jié)構(gòu)的一種精細復(fù)雜的變換，每種晶體的結(jié)構(gòu)與其X射線衍射圖之間都有著一一對應(yīng)的關(guān)系，其特征X射線衍射圖譜不會因為它種物質(zhì)混聚在一起而產(chǎn)生變化，這就是X射線衍射物相分析方法的依據(jù)。 制備各種標準單相物質(zhì)的衍射花樣并使之規(guī)范化，將待分析物質(zhì)的衍射花樣與之對照，從而確定物質(zhì)的組成相，就成為物相定性分析的基本方法。 鑒定出各個相后，根據(jù)各相花樣的強度正比于改組分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可對各種組分進行定量分析。目前常用衍射儀法得到衍射圖譜，用“粉末衍射標準聯(lián)合會（JCPDS）”負責編輯出版的“粉末衍射卡片（PDF卡片）”進行物相分析。衍射儀的制作方法難嗎？...

X射線衍射法是一種研究晶體結(jié)構(gòu)的分析方法，而不是直接研究試樣內(nèi)含有元素的種類及含量的方法。當X射線照射晶態(tài)結(jié)構(gòu)時，將受到晶體點陣排列的不同原子或分子所衍射。X射線照射兩個晶面距為d的晶面時，受到晶面的反射，兩束反射X光程差2dsinθ使入射波長的整數(shù)倍時，即2dsinθ=nλ（n為整數(shù)），兩束光的相位一致，發(fā)生相長干涉，這種干涉現(xiàn)象稱為衍射，晶體對X射線的這種折射規(guī)則稱為布拉格規(guī)則。θ稱為衍射角（入射或衍射X射線與晶面間夾角）。n相當于相干波之間的位相差，n=1，2…時各稱0級、1級、2級……衍射線。反射級次不清楚時，均以n=1求d。晶面間距一般為物質(zhì)的特有參數(shù)，對一個物質(zhì)若能測定數(shù)個d及與其...

X射線衍射工作原理： X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子（原子、離子或分子）所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用，從而使得散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量粒子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生大強度的光束稱為X射線的衍射線 滿足衍射條件，可應(yīng)用布拉格公式：2dsinθ=nλ 應(yīng)用已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析；另一個是應(yīng)用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。 XRD分析常用的軟件有有Pcpdgwi...

X射線衍射照相法的原理是什么？ 照相法以光源發(fā)出的特征X射線照射多晶樣品，并用底片記錄衍射花樣。根據(jù)樣品與底片的相對位置，照相法可以分為德拜法、聚焦法其中德拜法應(yīng)用為普遍。 當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有 X射線衍射分析相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。這就是X射線衍射的基本原理。衍射儀購買需要多少錢？歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！奧林巴斯BTX小型臺式XRD工藝流程分析電子衍射與x射線衍射有何異同？ 多晶金屬材料經(jīng)機械加工、...

X射線衍射儀測得金紅石型和銳鈦型的比較大衍射峰強度，將銳鈦型的衍射峰強度轉(zhuǎn)換成相對于金紅石型的銳鈦型含量，金紅石的含量由差值確定。根據(jù)使用的X射線衍射儀的性能及待測樣品的實際情況選擇比較好測試條件，即調(diào)節(jié)光管電流、電壓和狹縫等條件。掃描角速選擇0.25°/min，或0.02°/步。掃描角度選擇24°≤2θ≤28°。分析測定完成后，在X射線衍射數(shù)據(jù)處理軟件中找到分析樣品的譜線圖，根據(jù)譜圖可以得到銳鈦型（A）和金紅石型(R)的X射線衍射峰的比較大值。上海澤權(quán)的衍射儀怎么樣？歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！江蘇奧林巴斯XRD批發(fā)價格“x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器".由于物質(zhì)要...

便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學技術(shù)領(lǐng)域的科學儀器X射線發(fā)生器，射線管功率：10W，X射線輻射劑量：儀器表面2cm處輻射能級0.5mRad/H；樣品振動系統(tǒng)，測量角度范圍：5°—55°，微量樣品室：小可檢測樣品量15mg，掃描方式：全譜掃描；探測器，探測效率：98%，XRD 分辨率 0.25°(2θFWHM)，XRF 分辨率230eV；冷卻系統(tǒng)：制冷方式：2D Peltier 電子制冷，儀器制冷效率：儀器正常工作持續(xù)8時機箱溫度不超過35℃；數(shù)據(jù)庫：PDF2由國際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)中心提供，至少包含3000多種礦物30000多個礦物數(shù)據(jù)。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，反映著...

X射線衍射照相法的原理是什么？ 照相法以光源發(fā)出的特征X射線照射多晶樣品，并用底片記錄衍射花樣。根據(jù)樣品與底片的相對位置，照相法可以分為德拜法、聚焦法其中德拜法應(yīng)用為普遍。 當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有 X射線衍射分析相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。這就是X射線衍射的基本原理。上海澤權(quán)的衍射儀是否結(jié)實耐用？歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！上海奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀報價哪家便宜被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具...

x射線衍射在金屬學中的應(yīng)用 x射線衍射現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)后，很快被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)，出現(xiàn)了許多具有重大意義的結(jié)果。如（a.westgren）(1922年)證明α、β和δ鐵都是立方結(jié)構(gòu)，β-fe并不是一種新相;而鐵中的α─→γ轉(zhuǎn)變實質(zhì)上是由體心立方晶體轉(zhuǎn)變?yōu)槊嫘牧⒎骄w，從而終否定了β-fe硬化理論。隨后,在用x射線測定眾多金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)的同時，在相圖測定以及在固態(tài)相變和范性形變研究等領(lǐng)域中均取得了豐碩的成果。XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。x射線粉末衍射可以判斷是何種晶體物質(zhì)。鎮(zhèn)江衍射儀哪家可以代理分析電...

原位x射線衍射，我想，應(yīng)該是作為X射線衍射實驗的樣品，不要挪動位置、保持在原先的既定位置上，直接拿去進行X射線衍射測定。 這樣的要求，應(yīng)該是針對那些要求獲取既和原始位置有關(guān)的（在原始位置中，某物質(zhì)是處于何等晶格結(jié)構(gòu)的？它和周圍其它物質(zhì)的結(jié)合、相互作用怎么樣？等）、又與這一片材料物資本身的晶格結(jié)構(gòu)有關(guān)的信息！而前者似乎更重要！ 比如，在納米材料制備和研究中，在超導材料的制備研究中，向某一主要基體材料中添加極微量的摻雜成分，要研究摻雜物分子、原子對基體分子、原子是如何發(fā)揮超導作用的，就需要了解由原位x射線衍射實驗測定獲得的實驗數(shù)據(jù)。X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質(zhì)進行非破壞性分析的儀器。鎮(zhèn)江...

X射線衍射儀技術(shù)（XRD）可為客戶解決的問題： （1）當材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。 （2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。 （3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標。 （4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。 （5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。X射...

X射線衍射工作原理： X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子（原子、離子或分子）所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用，從而使得散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量粒子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生大強度的光束稱為X射線的衍射線 滿足衍射條件，可應(yīng)用布拉格公式：2dsinθ=nλ 應(yīng)用已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析；另一個是應(yīng)用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。 XRD分析常用的軟件有有Pcpdgwi...

X射線衍射儀工作原理是什么？ x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。 對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。 X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。普...

當x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點陣晶格間距為d的晶面上時,在符合上式的條件下，將在反射方向上得到因疊加而加強的衍射線。布拉格方程簡潔直觀地表達了衍射所必須滿足的條件。當 x射線波長λ已知時(選用固定波長的特征x射線)，采用細粉末或細粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中，從每一θ角符合布拉格方程條件的反射面得到反射,測出θ后，利用布拉格方程即可確定點陣晶面間距、晶胞大小和類型;根據(jù)衍射線的強度,還可進一步確定晶胞內(nèi)原子的排布。這便是x射線結(jié)構(gòu)分析中的粉末法或德拜-謝樂(debye—scherrer)法的理論基礎(chǔ)。而在測定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動（即θ不變）...

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會產(chǎn)生二次熒光X射線（標識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度（峰強度）可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關(guān)系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉。嘉興衍射儀一般多少錢分析電...

衍射（diffraction）又稱為繞射，波遇到障礙物或小孔后通過散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象。衍射現(xiàn)象是波的特有現(xiàn)象，一切波都會發(fā)生衍射現(xiàn)象。 如果采用單色平行光，則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果。相干波在空間某處相遇后，因位相不同，相互之間產(chǎn)生干涉作用，引起相互加強或減弱的物理現(xiàn)象。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，表示著衍射方向（角度）和強度。 x射線照射晶體，電子受迫振動產(chǎn)生相干散射；同一原子內(nèi)各電子散射波相互干涉形成原子散射波．由于晶體內(nèi)各原子呈周期排列，因而各原子散射波問也存在固定的位相關(guān)系而產(chǎn)生干涉作用，在某些方向上發(fā)生相長干涉，即形成了衍射波．由此可知，衍射的本質(zhì)是晶體中各原子相干散射波疊加...

用x射線照射固體時，由于光電效應(yīng)，原子的某一能級的電子被擊出物體之外，此電子稱為光電子。 如果x射線光子的能量為hν，電子在該能級上的結(jié)合能為eb，射出固體后的動能為ec，則它們之間的關(guān)系為： hν=eb+ec+ws 式中ws為功函數(shù)，它表示固體中的束縛電子除克服各別原子核對它的吸引外，還必須克服整個晶體對它的吸引才能逸出樣品表面，即電子逸出表面所做的功。上式可另表示為： eb＝hν-ec-ws 可見，當入射x射線能量一定后，若測出功函數(shù)和電子的動能，即可求出電子的結(jié)合能。由于只有表面處的光電子才能從固體中逸出，因而測得的電子結(jié)合能必然反應(yīng)了表面化學成份的情況。這正是光電子能譜儀的基本測試原理...

x射線粉末衍射儀, 針對于測試樣品為粉末; x射線衍射儀 , 包括粉末衍射、單晶衍射、高溫衍射儀等等 ! x射線衍射儀包含x射線粉末衍射儀! 由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù).單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu).粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu).但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析.x射線粉末衍射可以:1,判斷物質(zhì)是否為晶體.2,判斷是何種晶體物質(zhì).3,判斷物質(zhì)的晶型.4,計算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力.5,定量計算混合物質(zhì)的比例.6,計算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù).7,和其他專業(yè)相結(jié)合會有更普遍的用途.X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快...

x射線衍射在金屬學中的應(yīng)用 x射線衍射現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)后，很快被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)，出現(xiàn)了許多具有重大意義的結(jié)果。如（a.westgren）(1922年)證明α、β和δ鐵都是立方結(jié)構(gòu)，β-fe并不是一種新相;而鐵中的α─→γ轉(zhuǎn)變實質(zhì)上是由體心立方晶體轉(zhuǎn)變?yōu)槊嫘牧⒎骄w，從而終否定了β-fe硬化理論。隨后,在用x射線測定眾多金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)的同時，在相圖測定以及在固態(tài)相變和范性形變研究等領(lǐng)域中均取得了豐碩的成果。XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。一個小晶體衍射X射線，其衍射方向是與晶體的周期性（d）有關(guān)的。鹽城...

便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學技術(shù)領(lǐng)域的科學儀器X射線發(fā)生器，射線管功率：10W，X射線輻射劑量：儀器表面2cm處輻射能級0.5mRad/H；樣品振動系統(tǒng)，測量角度范圍：5°—55°，微量樣品室：小可檢測樣品量15mg，掃描方式：全譜掃描；探測器，探測效率：98%，XRD 分辨率 0.25°(2θFWHM)，XRF 分辨率230eV；冷卻系統(tǒng)：制冷方式：2D Peltier 電子制冷，儀器制冷效率：儀器正常工作持續(xù)8時機箱溫度不超過35℃；數(shù)據(jù)庫：PDF2由國際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)中心提供，至少包含3000多種礦物30000多個礦物數(shù)據(jù)。 X射線發(fā)生器主要由高壓控制系統(tǒng)和X光管組成...

1、XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。 2、X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對應(yīng)的具有特定波長的X射線，稱為特征（或標識）X射線。 3、XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。X射線衍射分析的粉末樣品時的要求是什么?奧林巴斯XRD品牌一個小晶...

衍射儀： x射線發(fā)生器 探測器 1衍射儀進展 衍射儀的進展主要在三個方面： 1、X 射線發(fā)生器，2、探測器，3、衍射幾何與光路。 x射線發(fā)生器 X射線發(fā)生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設(shè)備之一，其優(yōu)劣會嚴重影響X射線衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量。 探測器 探測器是用來記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設(shè)備中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射線會透過而不被吸收；它的計數(shù)線性范圍不大，強衍射不易測準；而且，還會起“霧”；又由于要有暗室用化學法進行顯影、定影、沖洗、曬干等一套繁瑣的過程，因此被性能更好的光子計數(shù)器所取代。計數(shù)器探測器不需化學處理，可以通過電子電路直...

X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分。 （1）高穩(wěn)定度X射線源提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長, 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。 （2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機構(gòu)系統(tǒng)　樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。 （3）射線檢測器　檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。 （4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有特用衍射圖處理分析軟件的計算機系統(tǒng), 它們的特點是自動化和智能化。X射線衍射儀應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。黃山衍射儀批發(fā)X射線衍射...

制作粉末衍射儀試片的技巧： 粉末衍射儀要求樣品試片具有一個十分平整的平面，而且對平面中的晶粒的取向常常要求是完全無序的，不存在擇優(yōu)取向（在粘土分析中有時又要求制作定向的試片）。 制作合乎要求的衍射儀試片常用的方法。通常很細的樣品粉末（手摸無顆粒感），如無明顯的各相異性且在空氣中又穩(wěn)定，則可以用“壓片法”來制作試片。先把衍射儀所附的制樣框用膠紙固定在平滑的玻璃片上（如鏡面玻璃，顯微鏡載玻片等），然后把樣品粉末盡可能均勻地灑入（好是用細篩子—360 目篩入）制樣框的窗口中，再用小抹刀的刀口輕輕剁緊，使粉末在窗孔內(nèi)攤勻堆好，然后用小抹刀把粉末輕輕壓緊，后用保險刀片（或載玻片的斷口）把多余凸出的粉末削...

晶體的X射線衍射圖像實質(zhì)上是晶體微觀結(jié)構(gòu)的一種精細復(fù)雜的變換，每種晶體的結(jié)構(gòu)與其X射線衍射圖之間都有著一一對應(yīng)的關(guān)系，其特征X射線衍射圖譜不會因為它種物質(zhì)混聚在一起而產(chǎn)生變化，這就是X射線衍射物相分析方法的依據(jù)。 制備各種標準單相物質(zhì)的衍射花樣并使之規(guī)范化，將待分析物質(zhì)的衍射花樣與之對照，從而確定物質(zhì)的組成相，就成為物相定性分析的基本方法。 鑒定出各個相后，根據(jù)各相花樣的強度正比于改組分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可對各種組分進行定量分析。目前常用衍射儀法得到衍射圖譜，用“粉末衍射標準聯(lián)合會（JCPDS）”負責編輯出版的“粉末衍射卡片（PDF卡片）”進行物相分析。很多材料的性能由結(jié)晶程...

根據(jù)布拉格公式說明為什么低衍射角區(qū)的眼射線強度高于高角區(qū)新回答 ，這個問題是不正確的，請注意，布拉格公式是衍射的幾何條件，是衍射的必要條件，不是充分條件！滿足其后，還必須滿足結(jié)構(gòu)因子不為0（越大當然強，其他條件一樣的話）才能衍射，才有強度！事實上還和重復(fù)因子等有關(guān)，建議多看相關(guān)書籍。 影響粉末x射線衍射圖效果的因素有： ⑴粉末樣品自身顆粒的大小對x射線衍射分析測試結(jié)果有比較大的影響； ⑵樣品架裝填粉末樣品量不同對衍射結(jié)果有直接的影響； ⑶對于少量樣品或微量試樣采用橫式填樣法更加科學合理。x射線粉末衍射可以和其他專業(yè)相結(jié)合會有更普遍的用途。上海奧林巴斯BTX小型臺式XRD品牌衍射儀，即X射線...

X射線熒光光譜儀的原理是什么？ X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。 近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種普遍應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也普遍。 　　大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液...

1、XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。 2、X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對應(yīng)的具有特定波長的X射線，稱為特征（或標識）X射線。 3、XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。使用衍射儀的探測器以一定的角度繞樣品旋轉(zhuǎn)，接收到粉晶中不同網(wǎng)面、不...